溫度越高刻蝕效率越高，但是溫度過高工藝方面波動較大，只要通過設備自帶溫控器和點檢確認。刻蝕流片的速度與刻蝕速率密切相關噴淋流量的大小決定了基板表面藥液置換速度的快慢，流量控制可保證基板表面藥液濃度均勻。過刻量即測蝕量，適當增加測試量可有效控制刻蝕中的點狀不良作業數量管控：每天對生產數量及時記錄，達到規定作業片數及時更換。作業時間管控：由于藥液的揮發，所以如果在規定更換時間未達到相應的生產片數藥液也需更換。首片和抽檢管控：作業時需先進行首片確認，且在作業過程中每批次進行抽檢（時間間隔約25min）。1、大面積刻蝕不干凈：刻蝕液濃度下降、刻蝕溫度變化。2、刻蝕不均勻：噴淋流量異常、藥液未及時沖洗干凈等。3、過刻蝕：刻蝕速度異常、刻蝕溫度異常等。 刻蝕可以分成有圖形刻蝕和無圖形刻蝕。浙江刻蝕

濕法刻蝕是化學清洗方法中的一種，化學清洗在半導體制造行業中的應用，是用化學方法有選擇地從硅片表面去除不需要材料的過程。其基本目的是在涂膠的硅片上正確地復制掩膜圖形，有圖形的光刻膠層在刻蝕中不受到腐蝕源明顯的侵蝕，這層掩蔽膜用來在刻蝕中保護硅片上的特殊區域而選擇性地刻蝕掉未被光刻膠保護的區域。從半導體制造業一開始，濕法刻蝕就與硅片制造聯系在一起。雖然濕法刻蝕已經逐步開始被法刻蝕所取代，但它在漂去氧化硅、去除殘留物、表層剝離以及大尺寸圖形刻蝕應用等方面仍然起著重要的作用。與干法刻蝕相比，濕法刻蝕的好處在于對下層材料具有高的選擇比，對器件不會帶來等離子體損傷，并且設備簡單。廣州越秀刻蝕液等離子刻蝕是將電磁能量（通常為射頻（RF））施加到含有化學反應成分的氣體中實現。

反應離子刻蝕是當前常用技術路徑，屬于物理和化學混合刻蝕。在傳統的反應離子刻蝕機中，進入反應室的氣體會被分解電離為等離子體，等離子體由反應正離子、自由基，浙江氮化硅材料刻蝕服務價格、反應原子等組成。反應正離子會轟擊硅片表面形成物理刻蝕，同時被轟擊的硅片表面化學活性被提高，之后硅片會與自由基和反應原子形成化學刻蝕。這個過程中由于離子轟擊帶有方向性，RIE技術具有較好的各向異性。目前先進集成電路制造技術中用于刻蝕關鍵層的刻蝕方法是高密度等離子體刻蝕技術。傳統的RIE系統難以使刻蝕物質進入高深寬比圖形中并將殘余生成物從中排出，因此不能滿足0.25μm以下尺寸的加工要求，解決辦法是增加等離子體的密度。高密度等離子體刻蝕技術主要分為電子回旋加速振蕩（ECR）、電容或電感耦合等離子體（CCP/ICP）。刻蝕成了通過溶液、反應離子或其它機械方式來剝離、去除材料的一種統稱。

二氧化硅的干法刻蝕是：刻蝕原理氧化物的等離子體刻蝕工藝大多采用含有氟碳化合物的氣體進行刻蝕。使用的氣體有四氟化碳(CF)、八氟丙烷(C，F8)、三氟甲烷(CHF3)等，常用的是CF和CHFCF的刻蝕速率比較高但對多晶硅的選擇比不好，CHF3的聚合物生產速率較高，非等離子體狀態下的氟碳化合物化學穩定性較高，且其化學鍵比SiF的化學鍵強，不會與硅或硅的氧化物反應。選擇比的改變在當今半導體工藝中，Si02的干法刻蝕主要用于接觸孔與金屬間介電層連接洞的非等向性刻蝕方面。前者在S102下方的材料是Si，后者則是金屬層，通常是TiN（氮化鈦），因此在Si02的刻蝕中，Si07與Si或TiN的刻蝕選擇比是一個比較重要的因素。刻蝕也可以分成有圖形刻蝕和無圖形刻蝕。理想情況下，晶圓所有點的刻蝕速率都一致。

反應離子刻蝕：這種刻蝕過程同時兼有物理和化學兩種作用。輝光放電在零點幾到幾十帕的低真空下進行。硅片處于陰極電位，放電時的電位大部分降落在陰極附近。大量帶電粒子受垂直于硅片表面的電場加速，垂直入射到硅片表面上,以較大的動量進行物理刻蝕,同時它們還與薄膜表面發生強烈的化學反應，產生化學刻蝕作用。選擇合適的氣體組分，不僅可以獲得理想的刻蝕選擇性和速度，還可以使活性基團的壽命短，這就有效地阻止了因這些基團在薄膜表面附近的擴散所能造成的側向反應，提高了刻蝕的各向異性特性。反應離子刻蝕是超大規模集成電路工藝中比較有發展前景的一種刻蝕方法。法刻蝕主要利用反應氣體與等離子體進行刻蝕。廣東刻蝕硅材料

干法刻蝕是芯片制造領域較主要的表面材料去除方法，擁有更好的剖面控制。浙江刻蝕

“刻蝕”指的是用化學和物理方法有選擇地從硅片表面去除不需要的材料，主要是晶圓制造中不可或缺的關鍵步驟。刻蝕技術按工藝可以分為濕法刻蝕與干法刻蝕，其中干法刻蝕是目前8英寸、12英寸先進制程中的主要刻蝕手段，干法刻蝕又多以“等離子體刻蝕”為主導。在刻蝕環節中，硅電極產生高電壓，令刻蝕氣體形成電離狀態，其與芯片同時處于刻蝕設備的同一腔體中，并隨著刻蝕進程而逐步被消耗，因此刻蝕電極也需要達到與晶圓一樣的半導體級的純度（11個9）。浙江刻蝕