結果見圖3,在“start”條件后,在SCL的8個連續脈沖的高電平處,SDA對應的信號為10100010,即0xA2,第9個脈沖高電平處為0,是ACK標志。以上簡單介紹了用邏輯分析儀進行I2C分析的過程,可以看到操作起來非常簡單。下面再介紹利用邏輯分析儀采樣三相交流電機驅動器的6路PWM波形。硬件連接1.?先將邏輯分析儀的GND與目標板的GND連接,讓二者共地,見圖5。2.?選擇需要采樣的信號,這里就是單片機6路PWM波形的輸出引腳,將其接入邏輯分析儀的通道1(Input1)至通道6(Input6),并且把通道的名字改為Utop、Ubottom、Vtop、Vbottom、Wtop、WBottom,分別三路輸出的上下橋臂。3.?將邏輯分析儀和電腦USB口連接,windows會識別該設備,并在屏幕右下角顯示USB設備標識。軟件使用1.?運行Saleae軟件,此時邏輯分析儀的硬件已經與電腦相連,軟件會顯示[Connected]。2.?設置采樣數量和速度,PWM的頻率為15kHz,這里設置為2MSamples@4MHz的速度。3.?設置觸發條件,默認“----”就可以了。4.?按“start”按鈕,開始采樣。數據分析采樣結束后。歐奧電子是Prodigy在中國區的官方授權合作伙伴,ProdigyMPHY,UniPro,UFS總線協議分析儀測試解決方案不會收到EAR進出口方面的管制。分析儀哪里買?找歐奧!南京UFS協議分析儀品牌
DDR3/DDR4,USBtypeC等高速協議抓取和分析的服務。這種類型的時鐘計時會使邏輯分析儀中的數據采樣與被測設備中的時鐘異步。具體來講:定時分析儀適用于顯示信號活動“相當于其他信號”“何時”發生。定時分析儀側重于查看各個信號之間的時序關系,而不是與被測設備中控制執行的信號之間的時序關系。這就是為什么定時分析儀可以對與被測設備時鐘信號“不同步”或異步的數據進行采樣。在定時采集模式下,邏輯分析儀的工作是對輸入波形進行采樣,從而確定它們是高電平還是低電平。為了確定高低,邏輯分析儀會將輸入信號的電壓電平與用戶定義的電壓閾值進行比較。如果采樣時信號高于閾值,則分析儀將信號顯示為1或高。同樣,低于閾值的信號將顯示為0或低。下圖闡釋了當正弦波跨過閾值電平時邏輯分析儀對其進行采樣的情況。圖2定時分析采集原理采集之后采樣點被存儲在內存中,并用于重建方形數字波形。這種要使一切變成方形的處理方式似乎會限制定時分析儀的用處。不過定時分析儀本來也不是打算用作參數儀器的。若要查看信號的上升時間,可以使用示波器。若需校驗幾個或幾百個信號之間的時序關系,對其同時進行查看,則定時分析儀才是正確的選擇。無錫RFFE協議分析儀電話I2S邏輯分析儀/訓練器找歐奧!
歐奧電子是Prodigy在中國區的官方授權合作伙伴,ProdigyMPHY,UniPro,UFS總線協議分析儀測試解決方案不會收到EAR進出口方面的管制。同時還有代理其他總類的協議分析儀,包括嵌入式設備用的SDIO協議分析儀,QSPI協議分析儀及訓練器,I3C協議分析儀及訓練器,RFFE協議分析儀及訓練器等等。我司還有代理SPMI協議分析儀及訓練器,車載以太網分析儀,以及各種相關的基于示波器的解碼軟件和SI測試軟件。同時,歐奧電子也有提供高難度焊接,以及高速信號,如UFS,DDR3/DDR4,USBtypeC等高速協議抓取和分析的服務。邏輯分析儀基礎邏輯分析儀是一種類似于示波器的波形測試設備,它可以監測硬件電路工作時的邏輯電平(高或低),并加以存儲,用圖形的方式直觀地表達出來,便于用戶檢測和分析電路設計(硬件設計和軟件設計)中的錯誤。邏輯分析儀是設計中不可缺少的電子測試設備,通過它可以迅速地定位錯誤、解決問題、達到事半功倍的效果。一、邏輯分析儀的產生和發展20世紀70年代初研制出微處理器,出現4位和8位總線,傳統示波器的雙通道輸入無法滿足8bit的觀察。微處理器和存儲器的測試需要不同于時域和頻域儀器,所以數域測試儀器應運而生。
歐奧電子也有提供高難度焊接,以及高速信號,如UFS,DDR3/DDR4,USBtypeC等高速協議抓取和分析的服務。通過在整個信號活動信封內執行全時掃描,眼定位可以顯示在時間和電壓的小窗口中檢測到的轉變。這些掃描稱為眼圖掃描(eyescan)。像示波器一樣,眼圖掃描用于顯示測量數據。每個窗口中的轉變數量都會突出顯示。這可以使概覽眼型圖案,并確定是否需要使用示波器來進一步詳細地查看信號。圖19眼圖掃描可以運行導致自動設置閾電壓和采樣位置的eyescan,或運行只導致自動設置采樣位置的eyescan。眼定位測量收集數據所基于的通道數量會影響測量時間。當一個模塊中存在多個邏輯分析儀卡時將出現異常;在這種情況下,測量將同時并行運行。支持差分信號的邏輯分析儀中的眼圖掃描EyeScan:支持差分信號的邏輯分析儀(如16962A邏輯分析儀模塊)針對輸入使用真值差分接收器:可編程參考電壓將計入負輸入。這是分析儀采用單端探頭時的閾電壓。對于差分探測的相關操作,通常將參考電壓編寫為0V:隨后將接收器的輸出與0V進行比較,從差分輸入信號產生內部邏輯信號。請注意。PMBus邏輯分析儀/訓練器找歐奧!
因為傳遞過來的信號幅度比較小。圖23探頭的信號完整性考慮探頭的負載效應主要分為兩種類型:直流負載和交流負載。直流負載:探頭看起來象一個對地的直流負載,一般是20K歐姆。如果被測總線具有弱上拉或弱下拉特性(即上下拉電阻較),這個負載可能會導致邏輯錯誤。直流負載主要由探頭尖的電阻決定,這個電阻阻值越,直流負載越小,阻值越小,直流負載越。交流負載:探頭包含寄生電容和電感。這些寄生參數會減小探頭帶寬和導致信號反射。我們需要在被測電路接收端和探頭尖處考慮信號完整性。探頭帶寬被降低主要來自2個方面:探頭電容和探頭與目標連接的連線的電容。探頭導致信號反射的原因是4個方面:探頭電容和電感。探頭在被測總線上的探測位置;總線的拓撲結構;探頭和目標間連線的長度。對于交流負載,我們需要考慮:探測點在傳輸線的位置,總線的拓撲結構和探頭和目標間連線的長度。探頭的負載除了可以用復雜的Spice模型仿真分析外,也可以用簡單的RC模型簡單預估負載效應。下圖是典型探頭的RC模型。圖24常用探頭的RC模型我們需要仔細考慮探頭和目標之間的連線。為了可靠的電氣連接,有三種方式可選擇:短線探測(StubProbing),阻尼電阻探測。分析儀源頭工廠,一手勁爆價,就找歐奧!清遠PCIE協議分析儀廠家
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如果在時鐘沿檢測器重置之前出現第二個時鐘沿(在個時鐘沿后),為避免數據丟失需要兩個樣本。在跳變定時中,每個序列步驟只有2個分支。在跳變時序中,只有一個全局計數器可用。跳變時序需要有時間標簽才能重建數據。通過將時間標簽與內存中的測量數據交叉可存儲時間標簽。默認情況下,分析儀將查找為邏輯分析儀模塊定義的所有總線/信號上的轉變。但是,為增加可用內存深度和采集時間,可以在高級觸發中選擇不存儲某些總線/信號轉變(如將無用信息添加到測量中的時鐘或選沖信號)。運行測量時,無論總線/信號是否定義或是否分配給邏輯分析儀通道,都將在所有這些通道上采集數據。在跳變時序模式中,如果定義的總線/信號(未排除的)上存在轉變,將保存采集的樣本。運行跳變時序測量后,如果為以前未分配的邏輯分析儀通道定義新的總線/信號,那么將顯示在這些通道上采集的數據,但是不可能存儲這些總線/信號上的所有轉變;顯示的數據好似新的總線/信號在運行測量前就已經被排除了。在跳變時序中,不需要預先存儲數據(觸發前獲得的樣本)。因此,與狀態模式非常相似的是,觸發位置(起始/中心/結束)表明觸發后樣本占用內存的百分比。南京UFS協議分析儀品牌
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