作為工程師手頭常備的開發工具，目前有許多入門級的邏輯分析儀設計，整體功能雖然不能和專業儀器相比，但是用較低的成本來實現特定的功能，也是非常成功的設計。本文以下討論的邏輯分析儀，主要是指這類入門級設計。基于電腦并口的邏輯分析儀曾是主流，但是近年來電腦系統逐步不再配置并口，這類設計已經成為明日黃花，還具有原理學習的價值。另一類的邏輯分析儀，是以低速單片機為基礎的。很多愛好者用PIC、AVR等常見單片機設計了自己的作品。但這類單片機邏輯分析儀的共同弱點就是采樣速度太慢，通常不超過1MHz。以USBIO芯片為基礎的入門級邏輯分析儀現在為流行。比如Saleaelogic，還有類似的USBee等。這類產品主要采用一個USBIO芯片，例如CYPRESS公司的CY7C68013A-56PVXC，所有的信號觸發和處理工作都是電腦上的軟件完成的，硬件部分就只是一個數據記錄儀。高采樣速度為24MHz。它們可以“無限數量”地采樣，因為所有的數據都是存儲在電腦里的。目前一般多是8個通道，更多的通道數量會成比例地降低高采樣速度。這類產品構造簡單，方便易用，價格便宜，是調試單片機開發工作的好工具。它的缺點主要是采樣速度只有24MHz、8個通道。UFS邏輯分析儀/訓練器找歐奧！重慶SD分析儀品牌

定時分析與狀態分析的主要區別是：定時分析由內部時鐘控制采樣，采樣與被測系統是異步的；狀態分析由被測系統時鐘控制采樣，采樣與被測系統是同步的。用定時分析查看事件“什么時候”發生，用狀態分析檢查發生了“什么”事件。定時分析通常用波形顯示數據，狀態分析通常用列表顯示數據。六、小結邏輯分析儀主要用來測試以微處理器為的數字系統，在硬件電路、嵌入式系統和監控軟件的研制和調試過程中，都是一個必備的工具。邏輯分析儀具有豐富的觸發條件，不管被測系統多么復雜，邏輯分析儀都能準確地找到那些隱蔽的、偶然的特殊時刻，然后把觸發條件發生前后，各信號的時序圖和數據流顯示出來。問題也就看清楚了，不需要再絞盡腦汁的推理和猜測了。揭陽I3C分析儀那家好SPMl協議分析儀/訓練器找歐奧！

還要對信號進行放，因為傳遞過來的信號幅度比較小。圖23探頭的信號完整性考慮探頭的負載效應主要分為兩種類型：直流負載和交流負載。直流負載：探頭看起來象一個對地的直流負載，一般是20K歐姆。如果被測總線具有弱上拉或弱下拉特性（即上下拉電阻較），這個負載可能會導致邏輯錯誤。直流負載主要由探頭尖的電阻決定，這個電阻阻值越，直流負載越小，阻值越小，直流負載越。交流負載：探頭包含寄生電容和電感。這些寄生參數會減小探頭帶寬和導致信號反射。我們需要在被測電路接收端和探頭尖處考慮信號完整性。探頭帶寬被降低主要來自2個方面：探頭電容和探頭與目標連接的連線的電容。探頭導致信號反射的原因是4個方面：探頭電容和電感；探頭在被測總線上的探測位置；總線的拓撲結構；探頭和目標間連線的長度。對于交流負載，我們需要考慮：探測點在傳輸線的位置，總線的拓撲結構和探頭和目標間連線的長度。探頭的負載除了可以用復雜的Spice模型仿真分析外，也可以用簡單的RC模型簡單預估負載效應。下圖是典型探頭的RC模型。圖24常用探頭的RC模型我們需要仔細考慮探頭和目標之間的連線。為了可靠的電氣連接，有三種方式可選擇：短線探測（StubProbing),阻尼電阻探測。

多數邏輯分析儀還支持“notinrange”功能。范圍是一種方便的快捷方式，因此您無需指定“ADDR>=1000andADDR<=>標志：標志是用于從一個模塊向另一個模塊發送信號的布爾變量。當某種情況在某一模塊中發生而稍后被另一模塊測試時可以設置標志。在下面的示例中，標志1用于跟蹤在模塊1的觸發序列中發生的情況，如，如果想在ADDR=1000第5次出現時觸發，可以將觸發設置為：IfADDR=1000occurs5timesthenTrigger全局計數器類似于整數變量。全局計數器比發生計數器更靈活，因為它們可用于為復雜事件（例如一個時鐘沿后跟另一時鐘沿的事件）計數。可以增加、測試和重新設置全局計數器。默認情況下，全局計數器以零開頭并且不需要重新設置。歐奧電子是Prodigy在中國區的官方授權合作伙伴，ProdigyMPHY,UniPro,UFS總線協議分析儀測試解決方案不會收到EAR進出口方面的管制。同時還有代理其他總類的協議分析儀，包括嵌入式設備用的SDIO協議分析儀,QSPI協議分析儀及訓練器,I3C協議分析儀及訓練器,RFFE協議分析儀及訓練器等等。我司還有代理SPMI協議分析儀及訓練器,車載以太網分析儀，以及各種相關的基于示波器的解碼軟件和SI測試軟件。同時，歐奧電子也有提供高難度焊接。eMMC邏輯分析儀/訓練器廠家找歐奧！

就無法區分給定信號轉變區域是與時鐘上升沿相關聯，還是與下降沿（或兩者）相關聯。眼定位工作原理：通過邏輯分析儀使用少量的偏移延遲對每個通道進行雙重采樣的功能，以及通過使用獨有的OR操作比較延遲的樣本可進行眼定位測量。圖14眼定位工作原理當獨有的OR輸出很高時，延遲的樣本會有所差別，并且會在延遲時間之間檢測到轉變。由于采樣信號的不穩定和其他變化，眼定位測量將對每對延遲值的多個時鐘進行檢查，以便報告兩次延遲時間之間發生轉變的頻率。然后，檢查另一對延遲值，依次類推，直到掃描完轉變的整個時間范圍。圖15延遲值記錄因為邏輯分析儀可以調整通道的閾電壓，所以眼定位測量可在很多閾電壓電平隨著時間的推移對轉變進行重復掃描。圖16眼定位的多閾值掃描通過調整閾電壓和查看活動指示符，眼定位可查找信號活動信封并確定佳閾電壓；然后通過在該閾值執行全時掃描，眼定位可找出樣本位置。圖17眼定位的閾值和采樣位置掃描也可以在當前閾電壓設置下運行全時掃描，以便自動設置采樣位置。圖18掃描采樣位置自動閾值和采樣位置設置掃描通常足以確保正確采集數據，但它還可以識別您想要進一步詳細查看的信號（例如，如果您想查看延遲、衰減等）。ONFI v4協議分析儀/訓練器找歐奧！梅州協議分析儀收費

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