ESAPSS-01-708）中提出：“當被焊接在導電圖形中的元件與焊接表面鍍層不相容時，要避免采用金鍍層。在任何情況下都不允許在金鍍層上直接進行焊接。”★1991年3月，ESA在《表面安裝和混合工藝印制電路板的高可靠性焊接》（ESAPSS-01-738）中強調：“絕不允許用錫一鉛合金去焊黃金。如果陶瓷基片或器件的表面有鍍金層或涂金層，則可以采取某種形式的機械打磨去金，以保證更好的焊接性能。”★2002年桂林電子科大周德儉與吳兆華教授在《表面組裝工藝技術》中介紹，金在SnPb焊料中快速溶解，出現(xiàn)金向焊料的擴散溶蝕現(xiàn)象，并與焊料形成脆性的金屬間化合物，所以不宜用SnPb焊料焊接金。在高可靠電子裝聯(lián)元器件焊接中規(guī)定必須用鉛錫合金焊料，特別是在航天**行業(yè)的生產中，為防止金脆，鍍金的引線和接線端子必經過搪錫處理。對鍍金表面的處理問題已經明確提出，并作為禁（限）用工藝項目重點關注。國內外的**行業(yè)標準有關鍍金表面去金的要求見表1。6.無須糾結的鍍金引線/焊端除金處理盡管對于鍍金引線及焊端在焊接前為了確保焊接質量必須進行除金處理，但實際上鍍金引線及焊端需要預**行除金處理的元器件并不多，主要是電連接器鍍金焊杯和個別片式器件的鍍金焊端。除金工藝在電子設備制造中的應用場景非常多，除了上述應用場景之外，還有以下一些應用場景適合除金工藝。上海智能搪錫機聯(lián)系方式

在焊料中有AuSn4顆粒；圖43（b）表示經過烘烤的試樣，Ni3Sn4層長大，AuSn4從焊料內部向焊料和PCB基板的界面遷移。由于金屬間化合物中Au和Sn的比為1:4，所以即使很少量的Au也會生成較厚的AuSn4。圖43（c）表示經過烘烤再進行再流焊的試樣焊點，AuSn4化合物從界面溶解進入焊點。2.試驗證明：PBGA組件在150℃老化兩周后的金脆，表明主裂紋在Au-Sn化合物和Ni-Sn化合物間擴展，裂紋穿過了Ni3Sn4和Ni（P）+層，如圖44（a）所示。圖44（a）（b）所示為PBGA一側的SEM圖。圖中亮的區(qū)域為AuSn4化合物，暗的區(qū)域為Ni3Sn4化合物，亮的斑點為富Pb焊料。圖44（c）（d）所示為PCB一側的SEM圖。圖中亮的區(qū)域為Ni3Sn4化合物，暗的區(qū)域為Ni-P，亮的斑點為富Pb焊料。老化后PBGA組裝件的斷裂位置如圖44所示，其斷裂方式與上兩種不同，它是在界面處的分層斷裂而不是焊料的脆性斷裂。這些鍍金的PCB焊盤都存在金鍍層是否需要“除金”，應該引起我們的高度重視。六.鍍金引線除金的爭議1.“鍍金引線的除金處理”事關大局目前業(yè)界個別人對鍍金引線的除金處理的必要性和可行性頗有微詞。甘肅半自動搪錫機現(xiàn)貨為了保證錫層的附著力和質量，需要進行一系列的操作和處理。

根據(jù)IPCJ-STD-001D-2005規(guī)定，應用波峰焊接的鍍金引線無須預先除金。片式元器件焊端的鍍覆國內基本上是電鍍Sn、SnPb和SnPd合金；國外已經無鉛化，焊端是金鍍層的元器件已經很少，見表2。元器件焊端或引腳表面的鍍層厚度見表3。從表3可以看出，表面貼裝器件焊端金鍍層的厚度是很薄的，一般在μm。在Sn-Pb焊料中的熔解曲線也可以看出：當鍍金厚度＞μm時，才有足夠的金元素向焊料中擴散而產生脆性。薄的鍍金層能在焊接時迅速熔于焊料中，此時焊料中的錫與鎳層形成錫鎳共價化合物，使焊點更牢固，少量的金熔于錫中不會引起焊點變脆，金層起保護Ni層不被氧化的作用。Ni作為Cu和金之間的隔離層，防止盤層的孔隙在受潮濕時與Cu層形成微電池而腐蝕Cu。一般認為，少量的金不至于引起金脆，所以對表貼器件一般不采取去金措施。三.元器件引線/焊端“除金”工藝1.去金搪錫通用工藝1）手工智能焊臺去金搪錫使用烙鐵進行手工搪錫，搪錫溫度一般為260℃～280℃，時間為2s～3s，然后用吸錫繩加熱后吸除表面的搪錫層，若表面鍍金層大于μm，應再進行一次搪錫處理。由于鍍金層厚度有時很難判斷，一般全部按二次搪錫處理；該方法同樣適用于連接器焊杯的去金處理。手工搪錫法。

**工程物理研究院電子工程研究所董義和尹桂榮兩位工藝人員在《板級裝配中電子元器件鍍金引線處理》一文中指出：“目前國內電子行業(yè)中對鍍金引線的“去金”要求執(zhí)行很差，爭議也很大。有些工藝人員甚至不知道有鍍金引線的“去金”要求。有些單位也從未**過相關問題的討論，在工藝文件中也沒有“去金”工藝要求。行業(yè)內對“金脆”的認識膚淺，相關的“去金”工藝要求更加薄弱，總以為數(shù)十年的產品并沒有“去金”要求，焊點的質量也沒有出過問題。有的工藝人員認為自己搞了幾十年，也并沒有遇見過“金脆””。航天二院706研究所張永忠研究員說：“很多單位因為間距太密認為去金沒有必要，其實這是個誤區(qū)，實際上是把必要性和可行性混雜了”。航天產品和民用手機由于“金脆”暴露的巨大**給工藝人員敲響了警鐘。為了滿足廣大電路設計人員和電裝工藝人員的需求，筆者在航天五院和航天九院的協(xié)助下對此進行了長達4年的專題研究和分析，依據(jù)現(xiàn)有試驗數(shù)據(jù)和國內外標準詳細研究了鍍金引線的除金處理方法。實施“鍍金引線的除金處理”絕非小事；航天五院總工藝師范燕平曾與我通電話，說到**電科某研究所一位已經退休的工藝人員發(fā)表一篇題為《試論電子裝聯(lián)禁（限）用工藝的應用》**。錫粉純度不足：如果錫粉的純度不足，其中含有的雜質如鐵、銅等過量，會導致錫膏的焊接性能下降。

由此限定“***”、“第二”的特征可以明示或隱含和至少一個該技術特征。在本發(fā)明描述中，“多個”的含義是至少兩個，即兩個或兩個以上，除非另有明確體的限定外；“至少一個”的含義是一個或一個以及上。在本發(fā)明中，除非另有明確的規(guī)定和限定，術語“安裝”、“設置”、“連接”、“固定”、“旋接”等術語應做廣義理解，例如，可以是固定連接，也可以是可拆卸連接，或成一體；可以是機械連接，也可以是電連接；可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，可以是兩個元件內部的連通或兩個元件的相互作用關系，除非另有明確的限定，對于本領域的普通技術人員而言，可以根據(jù)具體情況理解上述術語在本發(fā)明中的具體含義。本發(fā)明涉及的控制器、控制電路是本領域技術人員常規(guī)的控制，如控制器的控制電路通過本領域的技術人員簡單編程即可實現(xiàn)，電源的提供也屬于本領域的公知常識，并且本發(fā)明主要發(fā)明技術點在于對機械裝置改進，所以本發(fā)明型不再詳細說明具體的電路控制關系和電路連接。如圖1－圖4所示，本發(fā)明提供一種搪錫噴嘴實施例。該搪錫噴嘴包括使設有出錫口11的噴嘴本體1，所述噴嘴本體1設有使液態(tài)焊錫從其表面錫流形成焊錫膜c的弧形斜面10。粘合劑是使錫膏具有一定粘性和可塑性的成分。如果粘合劑不足，會導致錫膏過硬、過脆，甚至無法使用；安徽全自動搪錫機使用方法

通過調整太陽能電池的材料和結構，可以更有效地吸收和轉化太陽的熱輻射能。上海智能搪錫機聯(lián)系方式

電連接器焊杯的搪錫次數(shù)**多不得超過三次。②用于印制電路板上的針式電連接器可用錫鍋進行搪錫，搪錫時電連接器本體垂直向下，搪錫部位。③鍍金電連接器焊杯的搪錫與除金a）焊杯表面若鍍金層厚度小于μm，可進行一次搪錫處理，否則應二次搪錫處理以達到除金的目的。b）有熱保護要求的電連接器焊杯搪錫時，應用浸有微量無水乙醇的無塵紙或醫(yī)用脫脂棉對根部絕緣體進行搪錫過熱保護。（4）清洗搪錫后要用浸有微量無水乙醇或異丙醇的無塵紙或醫(yī)用脫脂棉擦洗干凈電連接器的焊杯、焊針及根部。1）局部電鍍-焊杯鍍錫為確保焊接可靠性，對電連接器接觸偶鍍金焊杯進行搪錫是必須的；然而電連接器接觸偶并非整體全部鍍金。在電子產品中，電連接器接觸偶鍍層電鍍通常有三種類型：完全電鍍，局部電鍍和雙重電鍍。出于對成本的考慮一般采用局部電鍍或雙重電鍍，見圖23。電連接器的接觸偶采取分段電鍍工藝，即鍍金層用于接觸偶的插接部分，而接觸偶的與導線的焊接連接部分則進行鍍錫處理；無論是插接部分的鍍金和焊接部分的鍍錫，在鍍金或鍍錫處理前均需進行鍍Ni處理，即雙重電鍍。當印制電路板相匹配的微矩形連接器鍍金引線應用選擇型波峰焊接時，由于波峰焊本身是動態(tài)焊料波。上海智能搪錫機聯(lián)系方式