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XRD可以用于定量分析哪些內容?

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束蘊儀器(上海)有限公司2023-03-04

樣品的平均晶粒尺寸,基本原理:當 X 射線入射到小晶體時,其衍射線條將變得彌散而寬化,晶體的晶粒越小, x 射線衍射譜帶的寬化程度就越大。因此晶粒尺寸與XRD譜圖半峰寬之間存在一定的關系, 即謝樂公式(Scherrerequation),下期會詳細分析其原理與注意事項。 對于對于負載型催化劑表面的金屬顆粒,其顆粒大小 d(單位 nm)與其分散度 D 之間可以簡單地換算:d ≈ 0.9/D (注:0.9這個常數是經驗值) 。 樣品的相對結晶度:一般將 強衍射峰積分所得的面積(As)當作計算結晶度的指標,與標準物質積分所得面積(Ag)進行比較,結晶度=As/Ag*100%。

束蘊儀器(上海)有限公司
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簡介:專注于布魯克顯微CT1272、布魯克XRD衍射儀D8、布魯克顯微CT2214、布魯克XRD衍射儀D2
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Skyscan1275
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其余 1 條回答

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    束蘊儀器(上海)有限公司 2023-03-06

    物相含量的定量分析:主要有K值法也叫RIR方法和Rietveld全譜精修定量等。其中,RIR法的基本原理為1:1混合的某物質與剛玉(Al2O3),其 強衍射峰的積分強度會有一個比值,該比值為RIR值。通過將該物質的積分強度/RIR 值總是可以換算成Al2O3的積分強度。對于一個混合物而言,物質中所有組分都按這種方法進行換算, 可以通過歸一法得到某一特定組分的百分含量。 XRD還可以用于點陣常數的精密計算,殘余應力計算等(黃繼武老師主編的《多晶材料X射線衍射:實驗原理、方法與應用》)

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