深圳市匯浩電子科技發(fā)展有限公司2025-06-05

FCom晶振在長(zhǎng)期運(yùn)行過程中的頻率老化控制優(yōu)異，關(guān)鍵指標(biāo)如下： 年老化率控制在**±2ppm以內(nèi)**（典型值），部分TCXO小于±1ppm/年； 初期老化通常出現(xiàn)在1000小時(shí)，隨后趨于穩(wěn)定； FCom采用高純度晶體材料與低應(yīng)力工藝，降低熱循環(huán)/電荷遷移等老化誘因； 對(duì)RTC、計(jì)費(fèi)、同步類應(yīng)用，提供多批次老化數(shù)據(jù)曲線供客戶參考； 多型號(hào)通過85°C連續(xù)通電老化試驗(yàn)與后續(xù)頻率漂移評(píng)估。 這一能力使FCom晶振適用于對(duì)時(shí)間精度與系統(tǒng)漂移要求嚴(yán)格的設(shè)備，如電表、北斗終端等。

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