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如何通過可測試性設計提高產品的測試效率和降低測試成本？

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無錫珹芯電子科技有限公司2024-08-27

通過可測試性設計（DFT）提高產品的測試效率和降低測試成本，可以采用模塊化設計方法，使故障診斷更為直接。設計時內嵌測試訪問機制，如邊界掃描和內建自測試（BIST），減少對外部測試設備的依賴。此外，使用標準化的接口和協議可以簡化測試過程，提高自動化測試的覆蓋率。

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簡介：無錫珹芯電子專注于集成電路設計，提供音視頻芯片、嵌入式開發及技術咨詢服務。
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    無錫珹芯電子科技有限公司 2024-08-29

    可測試性設計通過在產品開發階段就考慮測試需求，從而提高測試效率并降低成本。這包括設計時加入易于測試的特性，如可觀察性（通過增加監控點）和可控性（通過簡化信號路由）。使用并行測試策略可以同時測試多個組件，縮短測試時間，而設計時的故障模擬功能可以和解決潛在問題。

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    無錫珹芯電子科技有限公司 2024-08-30

    為了提高測試效率和降低成本，可測試性設計應從簡化測試流程入手。設計中應包含明確的測試點和接口，允許快速診斷和隔離故障。采用自動化測試腳本和模式，減少手動測試的需求。同時，設計應允許靈活的測試配置，以適應不同的測試環境和需求，從而減少測試設備的投資和測試時間。

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