浙江秦治科技有限公司2024-03-03
日立手持熒光光譜儀X-MET全系配置-5℃的SDD探測器,散熱少,又采用Peltier半導體恒溫致冷、自然散熱、鋁合金機身散熱三重散熱,能再高溫環境中長期使用。配備了特殊檢測口薄膜,還能檢測400℃的樣品工件。想要了解更多,請致電秦治技術顧問。
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