上海頂策科技有限公司2023-05-21
在芯片老化方案設計上,我們通常會參考芯片應用電路圖進行老化方案設計,對于功能簡單的芯片也基本OK,不過對于復雜一些的芯片,需要考慮更多因素,因為老化測試首先需要芯片上電正常工作,另外需要讓芯片內部的每個模塊都能參與工作,這樣的老化測試才更有意義,如果某個模塊在老化過程中沒有參與工作,那么這部分電路則沒有起到老化作用,需要對老化方案進行優化。具體需要跟設計工程師詳細溝通。
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在整體結構設計上,一般主要采用兩種方式:子母板的方式和socket的方式。這兩種方式的選擇上,可以從芯片的封裝形式,引腳數量的多少,功耗的大小來綜合考慮。如封裝比較小,引腳比較少的,我們可以優先考慮采用子母板的方式進行,這種連接方式,對同一系列的產品(功能類似,封裝不同),只需要設計子板即可,母板可以復用,成本會低不少,另外這種方式也方便對芯片進行編號,以及在ATE測試時也都方便些,此方案需要針對子板排針定義做一個對應的ATE測試板,這類小封裝的芯片比較容易出問題的是WLCSP封裝,這類封裝體比較小,而且封裝體也比較脆弱,如果采用socket的方式進行HTOL,那么在ATE測試時需要特別注意,特別在用鑷子夾持的時候容易導致芯片產生裂紋,此時采用塑料鑷子會有所改善。