分布光度計(jì)測(cè)試光學(xué)解析二：中心光強(qiáng)：燈具發(fā)光中心即垂直軸0°水平軸0°的光強(qiáng)。峰值光強(qiáng)：燈具比較大光強(qiáng)。峰值光強(qiáng)位置：用橫縱坐標(biāo)表示出比較大光強(qiáng)的位置。有效光束角：在包含比較大光強(qiáng)的某個(gè)平面上，兩個(gè)為10%比較大光強(qiáng)的光強(qiáng)之間的夾角稱為該平面的有效光束角又稱光束擴(kuò)散角（H:C0-180:V:C90-270）。半峰邊角：在選定的通過(guò)比較大光強(qiáng)的平面上，兩個(gè)為50%比較大光強(qiáng)的光強(qiáng)之間的夾角。圓錐面光強(qiáng)分布曲線就是固定Gamma軸，C角度自旋一周形成的配光。分布光度計(jì)的測(cè)量數(shù)據(jù)可用于照明系統(tǒng)的光強(qiáng)分布分析。衢州CIE文件格式分布光度計(jì)設(shè)計(jì)

發(fā)光角度，又稱功率角度，通常我們使用半峰邊角度和有效光束角，半峰邊角度即50%發(fā)光強(qiáng)度的角度記作發(fā)光角度。有效光束度即10%發(fā)光強(qiáng)度的角度記作發(fā)光角度。對(duì)于LED燈珠，透鏡的大小、散射劑的多少和支架的傾斜角度等等都影響著燈珠的發(fā)光角度。燈珠的發(fā)光角度影響著LED應(yīng)用端的燈具配光設(shè)計(jì)。為此，翊明科技推出專業(yè)的“LED燈珠的發(fā)光角度及IES配光文件測(cè)試”系統(tǒng)，給客戶方便準(zhǔn)確的測(cè)試服務(wù)，并可提供可用于光學(xué)模擬的IES配光文件，該文件可直接導(dǎo)入Dialux、Tracepro或Lighttools等光學(xué)軟件中使用。寧波暗室分布光度計(jì)檢測(cè)設(shè)備分布光度計(jì)是一種用于精確測(cè)量光源或燈具在空間各個(gè)方向上的光強(qiáng)分布、光通量、照度等光學(xué)參數(shù)的專業(yè)儀器。

翊明分布光度計(jì)對(duì)雜散光要求：雜散光是分布光度測(cè)量中影響測(cè)試精度昀重要的因素之一。在分布光度測(cè)量設(shè)備的選購(gòu)、實(shí)驗(yàn)室建造中必須引起足夠的重視。應(yīng)該注意的是，任何黑色的表面也都存在百分之幾的光學(xué)反射。雜散光的影響對(duì)于測(cè)量窄光束燈具尤其明顯，例如，若投光燈的光束角為4°，即使環(huán)境的反射比只有1％，背景雜散光的影響將引起總光通量的誤差約達(dá)40%以上。因此，分布光度計(jì)中的光電探測(cè)器應(yīng)只接收燈具發(fā)光面或*從反光鏡反射后的光束，其它雜散光，如反光鏡邊緣、地面、墻面等反射引起的雜光應(yīng)予消除。

分布光度計(jì)儀器結(jié)構(gòu)，技術(shù)參數(shù)，測(cè)試，操作步驟以及軟件可以滿足一下標(biāo)準(zhǔn)要求：CIEPub.NO.70,”TheMeasurementofAbsoluteLuminousIntensityDistributions”、CIEDIV.Ⅱ-TC10,”P(pán)hotometryofLuminaires”、IESLM-35-1989,”IESApprovedMethodforPhotometricTestingofFloodlights”、IESLM-31,”IESApprovedMethodforPhotometricTestingofRoadwayLuminaires”、IES-LM-79-19,“ElectricalandPhotometricMeasurementsofSolid-StateLightingProducts”、GB/T7002-2016,“投光照明燈具光度測(cè)試”、GB/T9467-1988,“室內(nèi)燈具光度測(cè)試”、GB/T9468-1988,“道路照明燈具光度測(cè)試”、GB/T9468-2008“燈具分布光度測(cè)量的一般要求“、IES61341“MethodofMeasurementofCenterBeamIntensityandBeamAngle(s)ofReflectorLamp”、CIEPub.NO.76,“Photometry-theCIESystemofPhysicalPhotometry”；分布光度計(jì)可以測(cè)量不同角度的光強(qiáng)分布。

光度探測(cè)器是分布光度計(jì)的重要組成部分之一，探測(cè)器的光譜響應(yīng)S(λ)精度應(yīng)與人眼的明視覺(jué)光譜光視效率函數(shù)V(λ)一致，即S(λ)=V(λ)。根據(jù)國(guó)際照明委員會(huì)CIE規(guī)定，對(duì)于氣體放電燈的光強(qiáng)分布測(cè)量，探測(cè)器的V(λ)匹配誤差f1′應(yīng)不超過(guò)2％。要使探測(cè)器的光譜響應(yīng)匹配到與V(λ)曲線一致，通常采用一組不同材料的濾光片，加在硅光池前面。由于受玻璃材料的光譜透射比曲線的限制，要達(dá)到f1′小于2％的精度并非易事。目前在分布光度計(jì)中應(yīng)用的硅光電探測(cè)器，靈敏度會(huì)隨溫度升高而降低，溫度變化1℃，大約會(huì)引起0.1％的靈敏度變化。此外光電流放大電路的倍率也會(huì)受溫度的影響。因此必須對(duì)光度探頭和電路恒溫，溫度應(yīng)控制在1℃以內(nèi)。分布光度計(jì)的測(cè)量結(jié)果可用于照明系統(tǒng)的光強(qiáng)分布分析。衢州CIE文件格式分布光度計(jì)設(shè)計(jì)

路燈分布光度計(jì)測(cè)試系統(tǒng)。衢州CIE文件格式分布光度計(jì)設(shè)計(jì)

翊明分布光度計(jì)暗室的標(biāo)準(zhǔn)要求：①溫度要求：根據(jù)CIE70和LM-79的要求，在使用分布式光度計(jì)進(jìn)行測(cè)量時(shí)，通常是在25°的環(huán)境溫度下進(jìn)行的。②雜散光要求：雜散光可以使光強(qiáng)分布測(cè)試結(jié)果失敗，所以推薦在光源和廣度探頭接收面之間使用擋屏來(lái)限制入射的雜散光，但擋屏不能在光束中引起阻隔。光強(qiáng)分布的測(cè)試應(yīng)該在擋屏處在對(duì)應(yīng)位置上時(shí)能夠復(fù)現(xiàn)。此時(shí)的測(cè)量信號(hào)就是直射雜散光的信號(hào)，應(yīng)該將這個(gè)量從沒(méi)有這個(gè)擋屏的測(cè)試結(jié)果中減去。③暗室墻面涂刷要求：通常在給用戶設(shè)計(jì)暗室圖紙時(shí)，都會(huì)指明使用亞光黑的涂料，將房間內(nèi)所有墻面涂刷好。需要注意的是，房間所有墻面中，**重要的墻面是正對(duì)光度探頭的墻面，通常也是分布式光度計(jì)主機(jī)背后的墻面。該處若存在雜散光，將會(huì)直接照射到探頭中。④暗室尺寸要求：根據(jù)LM-79和CIE-70的要求，測(cè)試光路長(zhǎng)度至少要為被測(cè)燈具直徑**長(zhǎng)尺寸的6倍以上，意味著如果被測(cè)燈具的比較大尺寸為1.2米，那么光路的長(zhǎng)度至少需要為6米，加上主機(jī)和探頭預(yù)留的位置，整體暗室長(zhǎng)度至少要在8米以上。符合規(guī)范的暗室環(huán)境能夠很大程度地保證測(cè)試精度。衢州CIE文件格式分布光度計(jì)設(shè)計(jì)